本發(fā)明提供一種測試失效原因分類方法和系統(tǒng)、電子設(shè)備、存儲介質(zhì)，可應(yīng)用于人工智能領(lǐng)域、區(qū)塊鏈領(lǐng)域、分布式領(lǐng)域、云計算領(lǐng)域、大數(shù)據(jù)領(lǐng)域、物聯(lián)網(wǎng)領(lǐng)域、移動互聯(lián)領(lǐng)域、網(wǎng)絡(luò)安全領(lǐng)域、芯片領(lǐng)域、虛擬現(xiàn)實領(lǐng)域、增強現(xiàn)實領(lǐng)域、全息技術(shù)領(lǐng)域、量子計算領(lǐng)域、量子通信領(lǐng)域、量子測量領(lǐng)域、數(shù)字孿生領(lǐng)域或金融領(lǐng)域。該方法包括：獲取測試失效的分析信息；對測試失效的分析信息，進(jìn)行文本分詞，得到失效分詞信息；對失效分詞信息計算特征向量權(quán)值；依據(jù)特征向量權(quán)值輸入至原因分類模型進(jìn)行分類，得到分析信息對應(yīng)的失敗原因；實現(xiàn)測試的失效原因進(jìn)行自動分類，便于后續(xù)的處理和查詢。