本發(fā)明提供一種純錫鍍層元器件錫須生長失效預(yù)測(cè)方法與系統(tǒng)，獲取純錫鍍層元器件中錫須生長長度對(duì)數(shù)均值、對(duì)數(shù)標(biāo)準(zhǔn)差、錫須生長面密度均值以及面密度標(biāo)準(zhǔn)差數(shù)據(jù)，擬合出多項(xiàng)式擬合公式，計(jì)算錫須面密度均值、標(biāo)準(zhǔn)差、錫須生長長度對(duì)數(shù)均值以及對(duì)數(shù)標(biāo)準(zhǔn)差，分別進(jìn)行第一次和第二次蒙特卡羅運(yùn)算分析，得到錫須長度數(shù)據(jù)，根據(jù)錫須長度數(shù)據(jù)和預(yù)設(shè)失效判據(jù)，計(jì)數(shù)每組面密度中引起短路失效的錫須根數(shù)，計(jì)算待預(yù)測(cè)純錫鍍層元器件中引腳對(duì)的錫須生長失效率。整個(gè)過程中，從失效物理的角度，分別考慮錫須生長的面密度和長度值，并基于蒙特卡羅算法，分別進(jìn)行迭代運(yùn)算，兼顧錫須生長的失效物理因素，能對(duì)各類純錫鍍層元器件中錫須生長失效進(jìn)行快速、準(zhǔn)確預(yù)測(cè)。