本發(fā)明屬于傳感器技術(shù),用于實(shí)時(shí)檢測(cè)功能涂層是否失效。其技術(shù)方案是通過(guò)一種應(yīng)力傳感器檢測(cè)功能涂層和基體之間的應(yīng)力,從而判斷功能涂層是否脫落。它在基體表面制備絕緣層、導(dǎo)電層和傳感器層,傳感器層用于檢測(cè)應(yīng)力,導(dǎo)電層用于將傳感器信號(hào)傳導(dǎo)出去。它用于解決功能涂層的服役問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)功能涂層的實(shí)時(shí)檢測(cè)。它可以提高基體結(jié)構(gòu)的服役周期,縮短基體結(jié)構(gòu)的檢修時(shí)間。當(dāng)功能涂層在外力作用下產(chǎn)生剝離傾向時(shí),傳感器即可產(chǎn)生信號(hào),該信號(hào)被系統(tǒng)收集并定位放大,存儲(chǔ)在特定的存儲(chǔ)器內(nèi),當(dāng)進(jìn)行回顧式檢測(cè)時(shí),即可早期發(fā)現(xiàn)功能涂層缺陷,以便采取措施。
聲明:
“用于監(jiān)測(cè)功能涂層失效的傳感器及其制備方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)