本發(fā)明公開了一種實(shí)際運(yùn)行工況環(huán)境下電器元件腐蝕失效預(yù)測方法，包括：步驟一、獲取所述服役環(huán)境對(duì)腐蝕所述電器元件有影響的關(guān)鍵環(huán)境參數(shù)；步驟二、測量得到表面腐蝕產(chǎn)物膜總厚度平均值步驟三、構(gòu)建加速試驗(yàn)環(huán)境；步驟四、將所述電器元件和n片銅測試片放置在所述加速試驗(yàn)環(huán)境中進(jìn)行加速腐蝕試驗(yàn)，分n次測量所述電器元件受環(huán)境腐蝕影響的關(guān)鍵性能P和所述銅測試片的表面腐蝕產(chǎn)物膜總厚度T_總；步驟五、擬合得到P＝K₁ln(t′)+B₁，T_總＝K₂ln(t′)+B₂；步驟六、當(dāng)P＝P′時(shí)，T_總的取值T_總′；并且，計(jì)算得到所述電器元件在服役環(huán)境運(yùn)行的腐蝕失效時(shí)間預(yù)測值D_失。本發(fā)明具有精確度高的優(yōu)點(diǎn)，能夠幫忙使用者精準(zhǔn)的對(duì)電器元件進(jìn)行腐蝕失效預(yù)測以及指導(dǎo)運(yùn)維。