本發(fā)明公開了一種對非揮發(fā)存儲器類產品進行失效模型建模的方法，包括以下步驟：步驟一：根據非揮發(fā)存儲器類產品存儲區(qū)域的電路結構和/或版圖布局的特點，通過對非揮發(fā)存儲器的操作過程中存儲器陣列內電路節(jié)點狀態(tài)的分析，建立起一張“失效模型-失效表征”真值表，該真值表由潛在的失效模型、關鍵電路模擬量輸出和失效單元位圖輸出三部分特征參數進行描述；步驟二：使用該真值表實現真實失效模型的建模，然后使用建模結果指導物理分析定位。本發(fā)明在進行物理分析定位前建立起失效模型，能夠使失效模型的建模具有系統(tǒng)性的特點，并且大大提高非揮發(fā)存儲器故障點定位的邏輯嚴密性和精確度，從而提高失效分析的定位效率和成功率。