本發(fā)明提供一種存儲(chǔ)器及其獲取方法、失效定位方法,在將存儲(chǔ)器
芯片暴露至位線上的介質(zhì)層之后,在介質(zhì)層上形成兩個(gè)襯墊,并將雙位線失效的兩條位線通過(guò)電連線分別連接到這兩個(gè)襯墊上,這樣,就單獨(dú)將這兩條失效的位線建立了熱點(diǎn)分析的回路,這兩個(gè)襯墊用于偏置熱點(diǎn)分析時(shí)的電壓,從而,可以抓取到熱點(diǎn),實(shí)現(xiàn)雙位線失效的快速精確定位。
聲明:
“存儲(chǔ)器及其獲取方法、失效定位方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)