本發(fā)明公開了一種閃存頁失效特性的識別方法和識別系統(tǒng)，涉及閃存失效塊、失效頁檢測技術(shù)領(lǐng)域，主要解決現(xiàn)有的閃存失效頁進(jìn)行識別時，沒有考慮到不同塊中相同頁偏移的頁失效時可能存在的關(guān)聯(lián)性，從而導(dǎo)致數(shù)據(jù)出現(xiàn)丟失或者損壞的問題；包括掃描測試模塊、統(tǒng)計對比模塊、判斷模塊、標(biāo)記模塊，通過對閃存進(jìn)行掃描測試，將閃存中每一個塊中的每一個頁出錯bit數(shù)記錄下來，并標(biāo)記為數(shù)組，對數(shù)組進(jìn)行統(tǒng)計，得出相同頁偏移上出現(xiàn)錯誤bit數(shù)的眾數(shù)，統(tǒng)計出錯bit數(shù)大于眾數(shù)與穩(wěn)定系數(shù)之和的次數(shù)，記為不穩(wěn)定頁出現(xiàn)的次數(shù)，不穩(wěn)定頁次數(shù)大于塊相關(guān)數(shù)時，則認(rèn)為該頁偏移存在不穩(wěn)定性，并標(biāo)記為壞頁，從而提升壞頁識別準(zhǔn)確率，保證閃存的數(shù)據(jù)讀寫安全。