本發(fā)明公開(kāi)了一種失效點(diǎn)定位方法、裝置、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì),該方法包括:在待測(cè)產(chǎn)品的金屬層上覆蓋第一厚度的透光膜層的情況下,根據(jù)與第一厚度相對(duì)應(yīng)的第一頻率,向待測(cè)產(chǎn)品施加第一偏置電壓;獲取待測(cè)產(chǎn)品的第一熱成像圖,并根據(jù)第一熱成像圖確定第一異常區(qū)域以及第一非異常區(qū)域;根據(jù)第一異常區(qū)域,確定待測(cè)產(chǎn)品的失效點(diǎn)對(duì)應(yīng)的待檢測(cè)區(qū)域。通過(guò)本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案,實(shí)現(xiàn)了準(zhǔn)確且便捷的確定待測(cè)產(chǎn)品中的失效點(diǎn)所在區(qū)域的效果。
聲明:
“失效點(diǎn)定位方法、裝置、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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