本發(fā)明公開了一種基于裝置插件內(nèi)部溫度的繼電保護(hù)裝置時變失效率估算方法,包括以下步驟:獲取繼電保護(hù)裝置失效信息,將其按偶然失效和老化失效分類統(tǒng)計;分析失效信息,確定重要功能模塊;由符合指數(shù)分布函數(shù)的最大似然估計求得偶然失效率;以半年為時間區(qū)間,計算各個模塊的年老化失效率;以Weibull分布模型建立老化失效率函數(shù);建立尺度參數(shù)η與溫度T之間的關(guān)系,即Arrhenius模型;將Arrhenius模型與Weibull分布模型相結(jié)合得到時變老化失效率模型;對未知參數(shù)進(jìn)行求解,利用各模塊的T、t與λ數(shù)據(jù),采用Marquardt法對A和β進(jìn)行的三維參數(shù)估計,實(shí)驗求得激活能E,進(jìn)而求得各個模塊的時變老化失效率函數(shù);利用串聯(lián)系統(tǒng)模型求得保護(hù)裝置整體的時變失效率。
聲明:
“基于內(nèi)部溫度的繼電保護(hù)裝置時變失效率估算方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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