本發(fā)明提供一種存儲器失效位置查找方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和可讀存儲介質(zhì),該存儲器失效位置查找方法包括:利用預(yù)設(shè)電性能測試算法對目標(biāo)存儲器進(jìn)行測試,獲取目標(biāo)存儲器中失效存儲單元的邏輯地址信息;根據(jù)邏輯地址信息劃分出目標(biāo)存儲器的目標(biāo)測試范圍;對目標(biāo)測試范圍上的存儲單元進(jìn)行第一預(yù)設(shè)次數(shù)的反復(fù)上電,并通過缺陷定位設(shè)備獲取失效存儲單元的物理位置信息。本發(fā)明通過失效存儲單元的邏輯地址劃分出目標(biāo)測試范圍,可以限定失效存儲單元進(jìn)行下一步的上電測試,將失效存儲單元隔離出來,使定位失效存儲單元的物理位置的成功率更高,通過缺陷定位設(shè)備觀測目標(biāo)測試范圍上失效存儲單元產(chǎn)生的故障點(diǎn),可以有效定位失效物理位置。
聲明:
“存儲器失效位置查找方法、裝置和計(jì)算機(jī)設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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