本申請(qǐng)涉及一種元器件失效率預(yù)計(jì)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。所述元器件失效率預(yù)計(jì)方法在傳統(tǒng)的失效率預(yù)計(jì)模型基礎(chǔ)上引入了所述多個(gè)影響系數(shù)、所述質(zhì)量系數(shù)和所述多個(gè)持續(xù)工作時(shí)間占比，從而建立所述元器件失效率預(yù)計(jì)模型。本申請(qǐng)實(shí)施例所述元器件失效率預(yù)計(jì)方法將傳統(tǒng)的元器件失效率預(yù)計(jì)模型按照所述誘發(fā)應(yīng)力類型拆分為更為精細(xì)的預(yù)計(jì)步驟，使得所述待測(cè)試元器件組的失效率更加符合所述待測(cè)試元器件組的實(shí)際使用情況。解決了傳統(tǒng)數(shù)理統(tǒng)計(jì)預(yù)計(jì)模型失效率與實(shí)際失效率具有較大的預(yù)計(jì)偏差的技術(shù)問題，達(dá)到了達(dá)到減小所述預(yù)計(jì)失效率與實(shí)際失效率預(yù)計(jì)偏差的技術(shù)效果。