本發(fā)明公開了一種擦失效存儲單元的替換方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì),接收外部測試機(jī)的擦操作指令,存儲
芯片內(nèi)部對block依次執(zhí)行預(yù)編程校驗、擦除校驗和軟編程校驗,若在上述校驗中出現(xiàn)校驗失敗,則相應(yīng)執(zhí)行判斷或者替換操作,最后向外部測試機(jī)報告測試結(jié)果;由于測試機(jī)不再進(jìn)行查找、計算、判斷和替換,計算量大大下降,從而降低了對測試機(jī)的性能需求,另外,由于失效存儲單元的判斷轉(zhuǎn)由存儲芯片內(nèi)部完成,不依靠外部測試機(jī)的read判斷,因此也提高了測試的準(zhǔn)確度。
聲明:
“擦失效存儲單元的替換方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)