本發(fā)明提出一種采樣遠(yuǎn)場方向圖診斷陣列天線失效陣元的方法,它的具體步驟是:把陣列天線中陣元的工作狀態(tài)分為工作和不工作兩種狀態(tài),并對此狀態(tài)進(jìn)行使用遺傳基因算法(GA)進(jìn)行編碼,并建立目標(biāo)函數(shù)表征不同編碼狀態(tài)下計算所得的方向圖與測量所得的方向圖之間的差距。并使用GA算法優(yōu)化目標(biāo)函數(shù)達(dá)到最小值。也就是不同陣元工作狀態(tài)配置下計算所得方向圖與測量所得方向圖差距最小的情況。并通過在計算中利用提取到的陣列的S參數(shù)加入到陣列方向圖的計算中,把互耦效應(yīng)的影響考慮進(jìn)去。提高診斷的成功率。
聲明:
“采樣遠(yuǎn)場方向圖診斷陣列天線失效陣元的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)