本發(fā)明公開(kāi)了一種基于差分進(jìn)化算法和等效平面法的混聯(lián)結(jié)構(gòu)系統(tǒng)一次二階矩可靠性分析方法。對(duì)于含有m個(gè)串聯(lián)子單元，其中第i個(gè)串聯(lián)子單元包含ni(i＝1,…,m,ni≥1)個(gè)元件以獨(dú)立形式或并聯(lián)形式(ni≥2)連接的混聯(lián)結(jié)構(gòu)系統(tǒng)，使用基于差分進(jìn)化算法的一次二階矩法計(jì)算各串聯(lián)子單元的最可能失效點(diǎn)和可靠性指標(biāo)；然后，以等效平面法計(jì)算混聯(lián)結(jié)構(gòu)系統(tǒng)可靠度。本發(fā)明在機(jī)械電子、航空航天和土木工程等領(lǐng)域混聯(lián)結(jié)構(gòu)系統(tǒng)可靠度分析中有很好的通用性，能適應(yīng)各類非線性問(wèn)題，一階精度高，擴(kuò)展了差分進(jìn)化群智能優(yōu)化算法在混聯(lián)結(jié)構(gòu)系統(tǒng)可靠度上的適用范圍，對(duì)可靠性分析領(lǐng)域有重要的意義。