本發(fā)明公開了一種結(jié)構(gòu)可靠性分析方法、裝置、電子設(shè)備以及存儲介質(zhì),方法包括:確定待分析領(lǐng)域的產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、功能函數(shù)和隨機變量特征參數(shù),計算目標函數(shù)的梯度值,選取負梯度方向作為下降方向,確定隨迭代次數(shù)呈指數(shù)衰減的迭代步長后開始迭代,得到終點;當功能函數(shù)值滿足第一預(yù)設(shè)條件時,將終點作為可靠性分析方法的起點;取一種不涉及梯度計算的非負價值函數(shù)作為目標函數(shù),確定搜索方向與迭代步長;根據(jù)起點、搜索方向與迭代步長,進行迭代處理,輸出滿足第二預(yù)設(shè)條件的最大可能失效點與可靠指標;求解原始空間下的最大可能失效點,在可靠指標基礎(chǔ)上計算結(jié)構(gòu)失效概率。本發(fā)明提高了效率、有效性和通用性,可廣泛應(yīng)用于可靠性分析技術(shù)領(lǐng)域。
聲明:
“結(jié)構(gòu)可靠性分析方法、裝置、電子設(shè)備以及存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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