本實用新型公開了一種用于檢測壓敏電阻的電容量的檢測電路,包括單片機、檢測模塊和校準模塊,所述單片機同時連接所述檢測模塊和所述校準模塊,所述單片機產(chǎn)生方波通過所述檢測模塊檢測MOV的容抗,同時所述單片機還產(chǎn)生方波通過所述校準模塊得到所述MOV的電容量校準系數(shù)。本實用新型通過所述檢測模塊檢測出MOV的容抗,再計算出MOV的電容量,從而進一步判斷SPD是否失效,同時通過所述校準模塊實現(xiàn)自校準,保證了檢測出的MOV的電容值的精度。
聲明:
“用于檢測壓敏電阻的電容量的檢測電路” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)