本發(fā)明涉及一種單片集成電路貯存壽命特征檢測方法,包括步驟:對(duì)單片集成電路進(jìn)行外觀質(zhì)量檢查,并根據(jù)檢查結(jié)果得到外檢合格品和外檢失效品;對(duì)外檢合格品進(jìn)行電參數(shù)測量,并根據(jù)測量結(jié)果得到終檢合格品和終檢失效品;對(duì)終檢合格品進(jìn)行可靠性特征分析,得到預(yù)測貯存壽命。通過對(duì)單片集成電路進(jìn)行外觀質(zhì)量檢查和電參數(shù)測量,選出功能未失效的合格品,并通過對(duì)合格品進(jìn)行可靠性特征分析,得到集成電路的預(yù)測貯存壽命,從而可以估測導(dǎo)彈的貯存壽命,解決了對(duì)單片集成電路的貯存壽命特征的檢測的問題。
聲明:
“單片集成電路貯存壽命特征檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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