本發(fā)明提供一種晶體管老化參數(shù)檢測(cè)裝置、老化程度預(yù)測(cè)系統(tǒng)及方法,屬于晶體管技術(shù)領(lǐng)域,包括:將外部AC電源轉(zhuǎn)換為DC電源的開(kāi)關(guān)電源,與開(kāi)關(guān)電源連接有電源模塊,開(kāi)關(guān)電源和所述可調(diào)電源模塊之間設(shè)有電源開(kāi)關(guān);電源模塊連接有電容器、電位器、電壓數(shù)顯表、分壓器和電流數(shù)顯表;開(kāi)關(guān)電源和可調(diào)電源模塊之間設(shè)有輸出按鈕,輸出按鈕連接有第一繼電器。本發(fā)明能夠靈活的結(jié)合實(shí)際工程環(huán)境對(duì)IGBT的截止電壓和截止電流進(jìn)行參數(shù)檢測(cè),基于所測(cè)截止電壓和截止電流實(shí)現(xiàn)對(duì)IGBT老化程度預(yù)測(cè);所檢測(cè)的截止電壓和截止電流為IGBT的靜態(tài)參數(shù),能夠反映出IGBT的性能、失效與否以及健康程度;能夠?qū)ΜF(xiàn)場(chǎng)人員在IGBT的前期選型過(guò)程和運(yùn)維失效判別、預(yù)防性維保過(guò)程起到指導(dǎo)意義。
聲明:
“晶體管老化參數(shù)檢測(cè)裝置、老化程度預(yù)測(cè)系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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