本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體制冷片檢測裝置領(lǐng)域,公開了一種用于檢測半導(dǎo)體制冷片內(nèi)部電路的測試裝置,包括導(dǎo)通條、絕緣定位條、電源和測試區(qū)域,測試區(qū)域用于放置待測半導(dǎo)體制冷片,絕緣定位條活動插入待測半導(dǎo)體制冷片內(nèi),導(dǎo)通條的兩端分別為定位端和連接端,定位端活動插入待測半導(dǎo)體制冷片內(nèi),定位端與絕緣定位條在待測半導(dǎo)體制冷片內(nèi)活動擋接,導(dǎo)通條靠近定位端的側(cè)面設(shè)有導(dǎo)電部,導(dǎo)電部上固定有彈性導(dǎo)電體,彈性導(dǎo)電體與待測半導(dǎo)體制冷片內(nèi)部待測電路部件連接,導(dǎo)通條的外側(cè)面除了導(dǎo)電部和連接端以外部分均覆蓋有絕緣層,通過本實(shí)用新型提供的測試裝置,可以快速、準(zhǔn)確、高效便捷的檢測出制冷片內(nèi)部電路的失效位置及其失效模式。
聲明:
“用于檢測半導(dǎo)體制冷片內(nèi)部電路的測試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)