本實(shí)用新型提供了一種檢測(cè)電路結(jié)構(gòu)、陣列基板及顯示面板,所述檢測(cè)電路結(jié)構(gòu)包括多個(gè)待檢測(cè)走線和多個(gè)信號(hào)通入走線,每一信號(hào)通入走線上包括斷開的至少兩個(gè)子走線,每一信號(hào)通入走線的各子走線之間的斷開區(qū)域?qū)?yīng)有待檢測(cè)走線,每一信號(hào)通入走線上的各子走線之間通過連接線進(jìn)行連接,各子走線之間的斷開區(qū)域所對(duì)應(yīng)的待檢測(cè)走線與連接線之間形成第一重合區(qū)域;連接線的兩端分別通過第一過孔和第二過孔與信號(hào)通入走線連接,并通過第三過孔在第一重合區(qū)域與待檢測(cè)走線連接。上述方案,增加了過孔之間的距離,使得ITO爬坡處膜質(zhì)比較好,有電流通過時(shí),不容易發(fā)生ITO燒斷的現(xiàn)象,導(dǎo)致檢測(cè)失效。
聲明:
“檢測(cè)電路結(jié)構(gòu)、陣列基板及顯示面板” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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