本發(fā)明提出用于預(yù)測(cè)
芯片壽命的芯片內(nèi)建自檢電路,為維護(hù)人員提供維護(hù)依據(jù),提前做好防范,減小不必要的損失。該結(jié)構(gòu)建立于芯片上,包括:閾值設(shè)置模塊,參數(shù)檢測(cè)模塊,比較模塊,信息發(fā)送模塊等。所述閾值設(shè)置模塊,用以選擇可以用來(lái)檢測(cè)芯片狀態(tài)的模塊以及失效值;所述參數(shù)檢測(cè)模塊,用以實(shí)時(shí)獲取芯片工作狀態(tài)參數(shù);所述比較模塊,用以將即時(shí)的芯片工作參數(shù)與閾值數(shù)值進(jìn)行比較;所述信息發(fā)送模塊,可以將比較結(jié)果發(fā)送到相關(guān)人員設(shè)備處,由工作人員決定具體的維護(hù)工作內(nèi)容。
聲明:
“用于預(yù)測(cè)芯片壽命的芯片內(nèi)建自檢電路系統(tǒng)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)