本發(fā)明涉及光模塊檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,提供了一種篩選光模塊退化的檢測(cè)方法和裝置。其中方法包括在進(jìn)行老化測(cè)試前,給予光模塊中激光器預(yù)設(shè)的驅(qū)動(dòng)信號(hào),采集光模塊驅(qū)動(dòng)電路的激光器驅(qū)動(dòng)電壓值V
f0;在完成老化過程后,再次給予光模塊中激光器相同的預(yù)設(shè)的驅(qū)動(dòng)信號(hào),采集光模塊驅(qū)動(dòng)電路的激光器驅(qū)動(dòng)電壓值V
f1;若電壓值V
f1與電壓值V
f0相差超過預(yù)設(shè)閾值△V,則反饋激光器退化信息。本發(fā)明通過對(duì)光模塊中激光器工作狀態(tài)的監(jiān)控和控制,除了直觀的發(fā)光變化和背光變化進(jìn)行篩選外,本發(fā)明增加了激光器
芯片的V?I特性進(jìn)行進(jìn)一步的檢測(cè)和篩選,可進(jìn)一步將一些潛在的失效模塊篩選出去,從而提高光模塊檢測(cè)篩選的有效性和全面性。
聲明:
“篩選光模塊退化的檢測(cè)方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)