本實(shí)用新型公開了一種半導(dǎo)體檢測用四探針,包括本體,所述本體的上端固定安裝有絕緣板,所述絕緣板上端的中部固定安裝有測試板,所述本體后端的中部固定安裝有支架,所述支架的前端延伸至測試板上方,所述絕緣板上端的左端固定安裝有控制臺,所述控制臺的上端固定安裝有數(shù)示屏,所述數(shù)示屏的下端嵌入在控制臺的內(nèi)部,所述數(shù)示屏的上端與控制臺的上端為同一平面。該半導(dǎo)體檢測用四探針,通過安裝壓力傳感器可在對半導(dǎo)體進(jìn)行檢測時可對測試頭下探的壓力進(jìn)行探測,避免下探壓力過大將半導(dǎo)體原件造成損傷,使得測試數(shù)據(jù)失效,有效的提高了測試的精度,且對半導(dǎo)體原件進(jìn)行保護(hù),同時使測試更加的便捷,有效的增加了測試效率。
聲明:
“半導(dǎo)體檢測用四探針” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)