本申請公開了一種半導(dǎo)體器件及其檢測方法，半導(dǎo)體器件包括第一半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)、與第一半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)鍵合連接的第二半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)、以及鍵合檢測結(jié)構(gòu)；其中，鍵合檢測結(jié)構(gòu)包括段片式導(dǎo)電結(jié)構(gòu)以及信息產(chǎn)生裝置，段片式導(dǎo)電結(jié)構(gòu)包括分布于第一半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)中的第一段片和分布于第二半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)中的第二段片，第一段片和第二段片通過鍵合連接的第一導(dǎo)電觸點(diǎn)和第二導(dǎo)電觸點(diǎn)串聯(lián)形成檢測線，檢測線的兩端用于接入預(yù)設(shè)檢測電壓；信息產(chǎn)生裝置包括與不同位置的第一段片和/或第二段片對應(yīng)連接的多個(gè)信息產(chǎn)生單元，各信息產(chǎn)生單元用以在接收到預(yù)設(shè)檢測電壓時(shí)發(fā)出受檢測信息。本申請可以快速定位段片式導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的斷路位置，從而快速定位半導(dǎo)體器件的鍵合失效位置。