本實(shí)用新型屬于半導(dǎo)體集成電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域,提供了一種晶振檢測(cè)電路。本實(shí)用新型提供的晶振檢測(cè)電路,包括信號(hào)發(fā)生模塊、復(fù)位驅(qū)動(dòng)模塊、復(fù)位模塊以及判定模塊,由信號(hào)發(fā)生模塊接入被測(cè)晶振電路的晶振信號(hào),通過判斷復(fù)位模塊的工作狀態(tài)判斷被測(cè)晶振電路是否產(chǎn)生振蕩信號(hào),從而及時(shí)判斷被測(cè)晶振電路是否失效,提高了電路的可靠性,保證了電路后續(xù)定時(shí)功能的正常運(yùn)行。
聲明:
“晶振檢測(cè)電路” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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