本發(fā)明涉及一種點(diǎn)自電容屏觸控檢測(cè)方法、裝置、點(diǎn)自電容屏及電子設(shè)備。其中,點(diǎn)自電容屏觸控檢測(cè)方法包括:同時(shí)向待掃描感應(yīng)電極單元組及其相鄰的感應(yīng)電極單元組輸入相同的驅(qū)動(dòng)信號(hào);基于收到的驅(qū)動(dòng)信號(hào)變化量相應(yīng)識(shí)別出受觸控的點(diǎn)位坐標(biāo)。本發(fā)明能夠提高觸控屏的信噪比,解決現(xiàn)有技術(shù)中觸控屏功能失效或者誤觸等問題。
聲明:
“點(diǎn)自電容屏及觸控檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)