本發(fā)明涉及SSD的低功耗進(jìn)退可靠性檢測方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),該方法,包括:獲取高溫SSD低功耗進(jìn)退的壽命數(shù)據(jù);根據(jù)壽命數(shù)據(jù),計(jì)算得到威布爾分布形狀參數(shù)和尺度參數(shù);對威布爾分布假設(shè)進(jìn)行校驗(yàn);若校驗(yàn)通過,則獲取常溫SSD低功耗狀態(tài)的使用強(qiáng)度及高溫壽命試驗(yàn)加速因子;根據(jù)形狀參數(shù)、尺度參數(shù)、使用強(qiáng)度及加速因子,計(jì)算得到SSD的低功耗進(jìn)退可靠度,并生成檢測結(jié)果。本發(fā)明能夠準(zhǔn)確評估低功耗狀態(tài)在客戶端現(xiàn)場失效概率,預(yù)估設(shè)計(jì)改善后產(chǎn)品可以達(dá)到的可靠度,同時(shí)對設(shè)計(jì)改善的效果也給予量化評價(jià)。
聲明:
“SSD的低功耗進(jìn)退可靠性檢測方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)