本發(fā)明描述了用于檢測間歇性電通路的測試??墒顾┘拥碾娏鞣聪蛞匀鏈y試工件的所有部件。可以采用各種測試方法。這些方法可以包括:時(shí)域反射法(TDR);機(jī)械攪動(dòng);暗電流/電壓測試(暗IV),即使用所施加的電對工件進(jìn)行電測試;以及熱成像法,例如紅外熱成像法??蓪噭?dòng)期間感測到的電壓與基準(zhǔn)電壓進(jìn)行比較以確定是否存在間歇性失效。
聲明:
“電通路間歇性故障檢測” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)