本發(fā)明屬于材料測試技術領域,具體涉及了一種用于評估高反射率膜損耗穩(wěn)定性的X射線輻照測試方法。本發(fā)明利用X射線的電荷積累效應,模擬高反膜因荷電積累的失效過程:采用的X射線源對高反膜表面進行荷電處理,在累積的處理過程中;同時利用光電子能譜儀原位監(jiān)測高反膜表面化學態(tài)的變化,間斷的進行XPS分析,檢測高反膜表面的各元素的化學態(tài)變化。通過對隨機選取的失效組樣品和非失效組樣品進行統(tǒng)計分析,并引入α和β參數(shù)描述O1s峰的對稱性,只用到了兩個擬合參數(shù),就可以評估輻照荷電老化時的損耗變化,便于工程實際應用,是一種方便、快捷的判別方法。特別適合用于膜層材料工藝實驗的快速優(yōu)化、工藝監(jiān)控等環(huán)節(jié)。
聲明:
“用于評估高反射率膜損耗穩(wěn)定性的測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)