本發(fā)明公開了一種電致變色器件的性能測試方法,涉及電致變色器件的性能測試技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括采用SPM技術(shù)對與外接電源相連的電致變色器件的性能進行分析測試;得到測試數(shù)據(jù)并進行數(shù)據(jù)處理。該方法采用了SPM技術(shù),基于原子力顯微鏡技術(shù),耦合了電、磁、
電化學(xué)和機械性能檢測的多方位材料性能檢測技術(shù)。采用多功能掃描探針顯微鏡技術(shù),綜合檢測電致變色器件的多種界面性能。可實現(xiàn)對電致變色器件多種性能在微納米尺度上的直接觀察和動態(tài)檢測,為探索電致變色器件的失效機制和改善器件性能提供一種有力的方法和工具,加速電致變色器件的大規(guī)模應(yīng)用。
聲明:
“電致變色器件的性能測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)