本發(fā)明提出一種繼承性大變形電阻應(yīng)變片測試結(jié)構(gòu)及測試方法,在測試區(qū)L兩端設(shè)兩個(gè)固結(jié)區(qū),將多個(gè)電阻應(yīng)變片Y
i兩端固結(jié)在測試對象上;在測試區(qū)L范圍內(nèi),每個(gè)電阻應(yīng)變片Y
i的長度為L
i?1<L
i≤L
i?1(1+δ)(i=2,...,i,...n),δ表示電阻應(yīng)變片有效測試應(yīng)變量程。當(dāng)?shù)趇個(gè)電阻應(yīng)變片Y
i失效時(shí),第i+1個(gè)電阻應(yīng)變片Y
1+1進(jìn)入測試狀態(tài);變形測試數(shù)據(jù)為應(yīng)變片Y
i數(shù)據(jù)疊加Y
i起始點(diǎn)同一時(shí)間點(diǎn)的Y
i?1末端數(shù)據(jù),以此類推完成大變形檢測。本發(fā)明將電阻應(yīng)變片小變形測試優(yōu)勢拓展到大變形測試領(lǐng)域,能夠提高大變形檢測精度、拓展大變形檢測范圍,有很好的應(yīng)用市場前景。
聲明:
“繼承性大變形電阻應(yīng)變片測試結(jié)構(gòu)及測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)