本發(fā)明涉及一種雙軸拉伸力學(xué)性能測(cè)試儀器及原位微觀力學(xué)性能測(cè)試設(shè)備。所述雙軸拉伸力學(xué)性能測(cè)試儀器主要針對(duì)薄膜材料進(jìn)行拉伸試驗(yàn),使用時(shí)將待測(cè)試的試件放入夾具上板組件和夾具下板組件之間固定,使用拉伸裝置對(duì)試件進(jìn)行雙軸或單軸拉伸,然后利用作用力檢測(cè)裝置檢測(cè)拉伸方向上試件所受到的力,并通過位移檢測(cè)裝置檢測(cè)拉伸方向上試件產(chǎn)生的尺寸變化;同時(shí),由于本發(fā)明提供的拉伸力學(xué)性能測(cè)試儀器的體積小,結(jié)構(gòu)緊湊,可以直接與Raman光譜儀、XRD、超景深顯微鏡或光學(xué)顯微鏡相結(jié)合,實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)試試件的微觀損傷演變進(jìn)行原位表征,為研究材料的微觀損傷演變規(guī)律和失效機(jī)理提供參考。
聲明:
“雙軸拉伸力學(xué)性能測(cè)試儀器及原位微觀力學(xué)性能測(cè)試設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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