本發(fā)明公開了一種安全類芯片的測(cè)試防護(hù)方法和裝置，其中，該方法包括：步驟A：對(duì)外部測(cè)試設(shè)備輸入的軟件驗(yàn)證碼進(jìn)行驗(yàn)證，驗(yàn)證通過則在NVM中寫入軟件驗(yàn)證成功標(biāo)志位；步驟B：對(duì)外部測(cè)試設(shè)備輸入的硬件驗(yàn)證碼進(jìn)行驗(yàn)證，驗(yàn)證通過則檢測(cè)NVM中的軟件驗(yàn)證成功標(biāo)志位是否有效，如果有效，則進(jìn)入芯片測(cè)試模式。本發(fā)明的安全類芯片的測(cè)試防護(hù)方法和裝置，可以兼顧量產(chǎn)測(cè)試、安全防護(hù)及失效分析三方面的需求，安全系數(shù)高。通過軟件驗(yàn)證與硬件驗(yàn)證相結(jié)合的方式來啟動(dòng)測(cè)試模式，可極大增加破解難度?！败浖?yàn)證碼”及“硬件驗(yàn)證碼”在芯片發(fā)行階段寫入，且不會(huì)對(duì)軟件設(shè)計(jì)人員與硬件設(shè)計(jì)人員開放，能有效規(guī)避設(shè)計(jì)人員泄密的風(fēng)險(xiǎn)。