本發(fā)明公開了一種半導(dǎo)體激光器壽命測(cè)試裝置,包括光學(xué)平臺(tái),光學(xué)平臺(tái)上設(shè)有平行導(dǎo)軌和激光器水冷陣列;平行導(dǎo)軌上設(shè)有電動(dòng)平移臺(tái),電動(dòng)平移臺(tái)上固定著積分球和功率探測(cè)PD,積分球通過光纖連接有光譜儀,光譜儀連接至工控機(jī)上;功率探測(cè)PD通過采集卡與工控機(jī)連接;激光器水冷陣列的旁側(cè)設(shè)有溫度采集模塊,溫度采集模塊連接至工控機(jī);電動(dòng)平移臺(tái)通過控制電纜連接平移臺(tái)控制器,平移臺(tái)控制器連接到工控機(jī)上。該系統(tǒng)可針對(duì)不同封裝類型、不同功率及數(shù)量的激光器產(chǎn)品進(jìn)行自動(dòng)參數(shù)測(cè)試。在工作過程中自動(dòng)對(duì)所測(cè)激光器產(chǎn)品的功率及光譜信息進(jìn)行采集并記錄,并可進(jìn)行自動(dòng)報(bào)表打印數(shù)據(jù),形成測(cè)試報(bào)告,為激光器產(chǎn)品失效分析及研究提供依據(jù)。
聲明:
“半導(dǎo)體激光器壽命測(cè)試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)