本申請公開了一種測試板、測試架及高加速應(yīng)力測試的溫差控制系統(tǒng)及方法,該測試板包括:基板和陣列式分布在基板上的多個樣品卡槽,基板的一側(cè)邊設(shè)置有引腳,樣品卡槽用于裝載待測樣品,樣品卡槽上設(shè)置散熱組件,散熱組件位于待測樣品背離樣品卡槽的面上,散熱組件通過螺紋件固定在樣品卡槽;所述測試架包括相互垂直的第一連接部、第二連接部以及測試板。本申請公開的測試板和測試架使產(chǎn)品的溫度均衡,降低
芯片溫度與試驗箱環(huán)境溫度的溫差,真實模擬實驗環(huán)境下樣品的工作狀態(tài),及時發(fā)現(xiàn)設(shè)計和工藝故障;本申請公開的控制方法能夠?qū)崟r監(jiān)控測試樣品與試驗箱體的溫差,不需要人工監(jiān)控和調(diào)節(jié)溫差,進一步保證真實模擬產(chǎn)品失效狀態(tài)。
聲明:
“測試板、測試架及高加速應(yīng)力測試的溫差控制系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)