本發(fā)明所屬的測(cè)試裝置具備:圖樣產(chǎn)生器,其產(chǎn)生一種供給至多個(gè)被測(cè)試存儲(chǔ)器中的位址信號(hào)和數(shù)據(jù)信號(hào)以及產(chǎn)生一種期待值信號(hào);多個(gè)邏輯比較器,其在多個(gè)被測(cè)試存儲(chǔ)器所輸出的輸出信號(hào)和該期待值信號(hào)不一致時(shí)產(chǎn)生一種失效數(shù)據(jù);多個(gè)失效存儲(chǔ)器,其儲(chǔ)存著多個(gè)邏輯比較器所產(chǎn)生的失效數(shù)據(jù);多個(gè)存儲(chǔ)器控制器,其依據(jù)多個(gè)失效存儲(chǔ)器所儲(chǔ)存的失效數(shù)據(jù)以產(chǎn)生被測(cè)試存儲(chǔ)器的不良位址顯示用的不良位址資訊;多個(gè)通用緩沖存儲(chǔ)器,其儲(chǔ)存著多個(gè)存儲(chǔ)器控制器所產(chǎn)生的不良位址資訊;以及多個(gè)不良資訊寫入部,其將不良資訊同時(shí)寫入至多個(gè)被測(cè)試裝置的多個(gè)通用緩沖存儲(chǔ)器中所儲(chǔ)存的不良位址資訊所示的不良位址中。