本發(fā)明可簡(jiǎn)單計(jì)算每個(gè)測(cè)試圖案錯(cuò)誤率。本發(fā)明提供一種測(cè)試被測(cè)試設(shè)備的測(cè)試模塊,包括:圖案生成部,基于圖案程序生成給予被測(cè)試設(shè)備的測(cè)試圖案及對(duì)應(yīng)測(cè)試圖案的期望值圖案;輸出圖案取得部,取得被給予測(cè)試圖案的被測(cè)試設(shè)備所輸出的輸出圖案;比較部,對(duì)輸出圖案與期望值圖案進(jìn)行比較;失效計(jì)數(shù)器,計(jì)數(shù)比較部的輸出圖案與期望值圖案比較為不一致時(shí)輸出的失效信息的輸出次數(shù);控制部,通過圖案程序包含的控制命令控制失效計(jì)數(shù)器的動(dòng)作。
聲明:
“測(cè)試模塊及測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)