本發(fā)明公開了一種測(cè)量鹵離子對(duì)金屬鈍化膜影響的循環(huán)極化方法,將含有不同鹵離子濃度的溶液作為電解液,將金屬浸入該溶液,記錄該樣品的腐蝕電位Ecorr,然后以動(dòng)電位極化技術(shù)以v1的掃描速度從距Ecorr?100mV的電位Eini開始向陽極極化方向掃描,直至過鈍化區(qū)的電位Et。在電位到達(dá)Et后,重新以不同的掃描速度從Eini掃描至Et。記錄流經(jīng)樣品的相關(guān)數(shù)據(jù),作logi?E圖,然后分析同一樣品在不同的掃描速率下腐蝕電位及腐蝕電流的變化,分析相同掃描速率相同電位下不同鹵離子濃度電解液中樣品腐蝕電位及腐蝕電流的變化。本發(fā)明測(cè)量結(jié)果與實(shí)際鈍化膜的性能具有良好的相關(guān)性,比現(xiàn)有技術(shù)提供了更多的信息量,是研究各種溶液中金屬鈍化膜失效的一個(gè)非常有效的工具。
聲明:
“測(cè)量鹵離子對(duì)金屬鈍化膜影響的循環(huán)極化方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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