為了解決單片機80C196結(jié)構(gòu)功能復(fù)雜而外部引腳有限,導(dǎo)致輻射效應(yīng)測試難以覆蓋單片機80C196所有內(nèi)部功能模塊的技術(shù)難題,本發(fā)明提供了一種CMOS工藝單片機80C196輻射效應(yīng)的在線測試系統(tǒng)和方法。首先對待測單片機80C196進(jìn)行功能模塊劃分,每個功能模塊都有相應(yīng)的電參數(shù)或功能參數(shù)進(jìn)行表征,以監(jiān)測每個功能模塊的工作狀態(tài);再通過對各個功能模塊的電參數(shù)和功能參數(shù)的診斷分析,將輻射效應(yīng)導(dǎo)致的單片機80C196電參數(shù)和功能失效定義到單片機的內(nèi)部功能模塊。本發(fā)明能夠滿足單片機80C196輻射效應(yīng)的測試需求。
聲明:
“CMOS工藝單片機80C196輻射效應(yīng)的在線測試系統(tǒng)和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)