本發(fā)明屬于閃存
芯片可靠性測試技術(shù),尤其是涉及一種通過操作時(shí)間或電流判斷閃存芯片可靠性的方法及測試裝置。本發(fā)明首先通過測試裝置采集樣本閃存芯片的操作時(shí)間或電流,然后對數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理,建立數(shù)據(jù)與閃存芯片可靠性的對應(yīng)關(guān)系,再由測試裝置收集待測閃存芯片的操作時(shí)間和電流,最后結(jié)合可靠性的對應(yīng)關(guān)系判斷待測芯片的可靠性。本發(fā)明中提出的判斷閃存芯片可靠性方法與一般方法相比,不易受到閃存中存儲數(shù)據(jù)取值的干擾,同時(shí)克服了一般方法無法有效防止閃存突然失效而造成數(shù)據(jù)損失的缺點(diǎn)。
聲明:
“基于操作時(shí)間或電流判斷閃存芯片可靠性的方法及測試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)