本實用新型屬于封裝模塊監(jiān)測技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種封裝模塊翹曲變形及缺陷立體在線監(jiān)測裝置,包括投影云紋模塊、超聲波模塊、監(jiān)測分析模塊。本實用新型解決了現(xiàn)有技術(shù)中無法對封裝模塊的翹曲變形及缺陷進行在線監(jiān)測的問題,能夠?qū)﹄娮悠骷姆庋b模塊的失效情況進行在線監(jiān)測。
聲明:
“封裝模塊翹曲變形及缺陷立體在線監(jiān)測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)