本發(fā)明的各種實(shí)施例提供了一種用于監(jiān)測(cè)硬盤健康狀況的方法和裝置。該方法包括獲取與硬盤相關(guān)聯(lián)的全維度特征,其中全維度特征包括以下各項(xiàng)中的至少兩項(xiàng):硬盤性能信息、數(shù)據(jù)完整性信息、輸入/輸出I/O正確性信息、以及硬盤的自動(dòng)監(jiān)視分析和報(bào)告技術(shù)S.M.A.R.T.報(bào)告。該方法還包括基于全維度特征確定硬盤的健康狀況。在本發(fā)明的實(shí)施例中,根據(jù)反映硬盤的多方面狀況的全維度特征對(duì)硬盤的健康狀況進(jìn)行評(píng)估,可以降低對(duì)硬盤的健康狀況的誤判率,從而使得硬盤更換次數(shù)降低、更換成本降低,并且還將會(huì)能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)存儲(chǔ)系統(tǒng)中實(shí)際失效的其他部件。
聲明:
“用于監(jiān)測(cè)硬盤的健康狀況的方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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