一種芯片測(cè)試參數(shù)異常的偵測(cè)方法、存儲(chǔ)介質(zhì)、終端，所述方法包括：獲取當(dāng)前批次芯片的第一測(cè)試參數(shù)；根據(jù)所述第一測(cè)試參數(shù)計(jì)算所述當(dāng)前批次芯片的邊緣芯片比例，其中，所述邊緣芯片比例為所述當(dāng)前批次芯片中邊緣芯片的占比，所述邊緣芯片是所述第一測(cè)試參數(shù)的數(shù)值落入合格范圍但超出邊緣范圍的芯片；當(dāng)所述邊緣芯片比例與基準(zhǔn)邊緣芯片比例之差大于第一預(yù)設(shè)提示值時(shí)，確定偵測(cè)到芯片測(cè)試參數(shù)異常，其中，所述基準(zhǔn)邊緣芯片比例與所述預(yù)設(shè)測(cè)試項(xiàng)相對(duì)應(yīng)。通過本發(fā)明方案能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)芯片測(cè)試參數(shù)異常的自動(dòng)偵測(cè)和推送，以在實(shí)際出現(xiàn)Bin失效前，提前預(yù)警芯片可靠性問題以及生產(chǎn)工藝和測(cè)試環(huán)節(jié)可能存在的問題。