公開(kāi)了一種基于極端梯度提升樹(shù)算法的電子器件剩余壽命預(yù)測(cè)方法，包括：獲得電子器件在相同條件下的多組老化數(shù)據(jù)；對(duì)多組老化數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理并結(jié)合電子器件失效機(jī)理獲得失效變量；對(duì)預(yù)處理后的老化數(shù)據(jù)進(jìn)行變量之間的互相關(guān)系數(shù)計(jì)算，獲得與失效變量間關(guān)聯(lián)度不小于關(guān)聯(lián)閾值的特征變量；根據(jù)特征變量所對(duì)應(yīng)的老化數(shù)據(jù)建立基于極端梯度提升樹(shù)算法的老化模型；根據(jù)老化模型獲得失效變量的預(yù)測(cè)變化值，并結(jié)合設(shè)定的失效閾值，獲得電子器件的剩余壽命。本申請(qǐng)的電子器件剩余壽命預(yù)測(cè)方法，采用基于極端梯度提升樹(shù)算法的老化模型處理電子器件特征變量所對(duì)應(yīng)的老化數(shù)據(jù)，獲得失效變量的預(yù)測(cè)變化值得到剩余壽命的方法，預(yù)測(cè)精度高，泛化能力強(qiáng)。