本發(fā)明公開了一種硅片級別的頻率測試方法,是在專門進行存儲器類型
芯片測試的測試儀,即存儲器測試儀上利用其自身帶有的失效地址內存資源進行頻率測試,至少包括以下步驟為:選擇掃描頻率,對待測波形進行掃描;選擇參考電壓,將掃描得到的模擬信號轉化為數(shù)字信號;利用失效地址資源對上述數(shù)字信號進行存儲;對存儲的數(shù)據(jù)進行處理,計算出固定時間內的周期個數(shù),最后進行頻率計算。本發(fā)明是直接利用存儲器類型測試儀進行頻率測試,擴展了存儲器測試儀的測試功能、提升了其利用率,降低了測試成本。
聲明:
“硅片級別的頻率測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)