本發(fā)明為一種存儲器輻照測試方法以及實現(xiàn)該方法的裝置,其包括:輻射源、電平轉(zhuǎn)換電路、主控單元、數(shù)據(jù)輸入單元以及系統(tǒng)配置和處理單元。用以實現(xiàn)對存儲器件的動態(tài)輻照測試,首先進行初始化操作,對至少一被測存儲器件寫入指定數(shù)據(jù),然后開啟輻射源對被測存儲器件進行規(guī)定強度、規(guī)定距離、規(guī)定時間的輻照;在測試過程中根據(jù)特定的讀寫模式向所述被測存儲器件讀出數(shù)據(jù)/寫入數(shù)據(jù);實時的將被測存儲器件的實際輸出值和預(yù)期值進行對比,判斷其是否正確;一旦出現(xiàn)錯誤數(shù)據(jù),立刻記錄其失效信息;一次實驗就能找到被測存儲器件失效的臨界點。從而達到整個過程都在同步動態(tài)記錄,減少了實驗次數(shù),節(jié)約測試成本的目的。
聲明:
“存儲器輻照測試方法以及實現(xiàn)該方法的裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)