本發(fā)明公開(kāi)了一種基于門(mén)控遞歸單元神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電子器件剩余壽命預(yù)測(cè)方法,包括:獲得電子器件在相同條件下的多組老化數(shù)據(jù);對(duì)多組老化數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理;根據(jù)預(yù)處理后的老化數(shù)據(jù)以及電子器件失效機(jī)理獲得失效變量;根據(jù)預(yù)處理后的老化數(shù)據(jù)建立門(mén)控遞歸單元神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)老化模型;根據(jù)門(mén)控遞歸單元神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)老化模型獲得失效變量的預(yù)測(cè)變化值,結(jié)合設(shè)定的失效閾值,獲得電子器件的剩余壽命。本發(fā)明提供的電子器件剩余壽命預(yù)測(cè)方法,通過(guò)構(gòu)建門(mén)控遞歸單元神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)老化模型預(yù)測(cè)電子器件的剩余壽命,綜合考量了老化數(shù)據(jù)中各失效變量對(duì)電子器件剩余壽命的影響而進(jìn)行預(yù)測(cè),同時(shí)考慮到老化數(shù)據(jù)的時(shí)序特征,充分挖掘了老化數(shù)據(jù)中的信息,預(yù)測(cè)精度高,可靠性強(qiáng)。
聲明:
“基于門(mén)控遞歸單元神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電子器件剩余壽命預(yù)測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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