本發(fā)明提供了一種電子產(chǎn)品實(shí)時(shí)可靠性的預(yù)測(cè)方法基于貝葉斯方法和偽失效壽命，在更為恰當(dāng)?shù)毓烙?jì)先驗(yàn)分布中的未知參數(shù)和選擇實(shí)時(shí)可靠性公式的基礎(chǔ)上計(jì)算出當(dāng)前電子產(chǎn)品實(shí)時(shí)可靠性。首先運(yùn)用曲線擬合推出n個(gè)偽失效壽命，再選擇正態(tài)分布來(lái)表示n個(gè)偽失效壽命數(shù)據(jù)的分布，接著借助時(shí)間序列樣本生成法，估計(jì)出分布中的未知時(shí)變參數(shù)均值μj0及方差σj0，得到先驗(yàn)密度函數(shù)，然后根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)xj可以更新時(shí)變參數(shù)并得到時(shí)變參數(shù)的后驗(yàn)密度函數(shù)的均值μcj和方差σcj2，最后利用本發(fā)明設(shè)計(jì)的實(shí)時(shí)可靠性公式計(jì)算當(dāng)前電子產(chǎn)品的實(shí)時(shí)可靠性。通過(guò)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，本發(fā)明電子產(chǎn)品實(shí)時(shí)可靠性的預(yù)測(cè)方法對(duì)電子產(chǎn)品實(shí)時(shí)可靠性的預(yù)測(cè)精度高，能準(zhǔn)確地對(duì)電子產(chǎn)品的實(shí)時(shí)可靠性進(jìn)行預(yù)測(cè)。