本發(fā)明提供了一種復(fù)雜電子系統(tǒng)剩余壽命預(yù)測方法,采用節(jié)點的關(guān)聯(lián)重要度描述與該節(jié)點直接相連的節(jié)點個數(shù),采用位置重要度描述網(wǎng)絡(luò)中節(jié)點在網(wǎng)絡(luò)拓撲中的位置,采用失效率重要度描述網(wǎng)絡(luò)中節(jié)點自身發(fā)生失效的可能性大小,累加得到節(jié)點的綜合重要度,選取重要度排序中的前n個元器件作為剩余壽命關(guān)鍵元器件,建立n個關(guān)鍵元器件的失效物理模型,計算被選擇的各個關(guān)鍵器件的剩余壽命,以最少剩余壽命作為復(fù)雜電子系統(tǒng)的剩余壽命。本發(fā)明以若干關(guān)鍵元器件的剩余壽命來表征系統(tǒng)的使用狀態(tài),達到對整個電子系統(tǒng)進行剩余壽命預(yù)測的目的,有效地實現(xiàn)了板級電子系統(tǒng)和整個系統(tǒng)的剩余壽命預(yù)測。
聲明:
“復(fù)雜電子系統(tǒng)剩余壽命預(yù)測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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