本實(shí)用新型涉及頭堆組件壓電陶瓷微驅(qū)動位移測試機(jī)，包括機(jī)架，機(jī)架內(nèi)設(shè)置有多普勒激光發(fā)射儀和工控機(jī)，機(jī)架上的一側(cè)設(shè)置有多普勒激光控制器，另一側(cè)設(shè)置有硬盤頭堆測試主體機(jī)構(gòu)，硬盤頭堆測試主體機(jī)構(gòu)由激光傳感器測頭定位機(jī)構(gòu)、硬盤內(nèi)讀寫驅(qū)動架夾持機(jī)構(gòu)以及測試集成支撐框架機(jī)構(gòu)組成，激光傳感器測頭定位機(jī)構(gòu)和硬盤內(nèi)讀寫驅(qū)動架夾持機(jī)構(gòu)均安裝于測試集成支撐框架機(jī)構(gòu)上。本實(shí)用新型實(shí)現(xiàn)了硬盤讀寫驅(qū)動器，頭堆組件級別微驅(qū)驅(qū)動強(qiáng)度測試，其測試響應(yīng)為單個驅(qū)動頭像納米級別響應(yīng)值，且還能實(shí)現(xiàn)分頭像測試，可辨別單個讀寫頭像動力學(xué)特性，在微驅(qū)失效返修時，辨別單個失效讀寫頭像，避免了正常頭像被誤殺，節(jié)省物料成本。